Tianjin Topu Instrument
服務熱線:022-88289916
技術文章
當前位置:首頁技術文章紫外近紅應用-薄膜測量
目的:研究薄膜的光學透射性能
檢測:不同金屬薄膜在紫外可見近紅外的光譜
原理:研究薄膜的光學透射性能以及均勻性
試驗方法:
采用紫外可見近紅外分光光度計中波長掃描方式,做基線,后測定樣品
測定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見區光學性能不同
圖表 1 不同位置反射率
tjtp@tjtp.com
關注公眾號
Copyright © 2025 天津市拓普儀器有限公司版權所有 備案號:津ICP備10000615號-2
技術支持:化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
電話
返回頂部